HRVATSKO DRUŠTVO ZA ZAŠTITU MATERIJALA

CROATIAN SOCIETY FOR MATERIALS PROTECTION

 

12. SAVJETOVANJE O ZAŠTITI MATERIJALA I INDUSTRIJSKOM FINIŠU

12th CONFERENCE ON MATERIALS PROTECTION AND INDUSTRIAL FINISHING

 

Autor(i)/Author(s): Višnja Tadić Čolić

 

ISPITIVANJE IONSKOG ONEČIŠĆENJA NOVIH GENERACIJA ELEKTRONIČKIH SKLOPOVA IONIC CONTAMINATION CONTROL OF NEW GENERATION OF ELECTRONIC ASSEMBLIES
SAŽETAK

U radu su navedena iskustva o ispitivanju ionskog ostatka fluksova koje ne treba čistiti, posebice lemnih pasti. Naglašeno je da procesi bez čišćenja nisu i procesi bez ostatka. Diskutirano je o metodama kontrole ionskog onečišćenja.

KLJUČNE RIJEČI: ionsko onečišćenje, ostatak fluksa, fluksovi koje ne treba čistiti, fluksovi bez ostatka, lemne paste, elektronički sklopovi, otpornost/vodljivost ekstrakta otapala

ABSTRACT

Ionic Contamination Control and New Generation of Electronic Assemblies. The paper deals with some experiences in the ionic residue control of no-clean fluxes and, particularly, of solder pastes. It is pointed out that no-clean processes aren’t no-residue processes. Methods of ionic contamination control are discussed.

KEYWORDS: ionic contamination, flux residue, no-clean fluxes, no-residue fluxes, solder pastes, electronic circuits, solvent extract resistivity/conductivity

Povratak na izbornik članaka sa Savjetovanja 1996.